对于测试得到的DSC曲线，首先应该检查有无任何假象，以消除可能的解释错误。
假象是由某种与想要测量的样品性能无关的起因造成的效应，并非由样品直接产生。
下图所示为DSC曲线上出现的假象，其中有些有坩埚有关。
a) 样品至坩埚传热的突然改变。
原因有：1) 不规则形状的样品在坩埚中倒塌。2) 第1次加热时，已经向下压平在坩埚底上的塑料薄膜常常在熔融前卷曲。熔融后，热接触又会很好。
b) 坩埚至DSC传感器传热的突然改变。
b1) 由于样品的蒸气压造成密封铝坩埚变形。b2) 在动态温度程序中，由于铝坩埚与DSC传感器膨胀系数不同（Al ~24 ppm/K、梅特勒DSC陶瓷传感器~9 ppm/K），可导致在DSC传感器上的铝坩埚轻微移动。假象约为10μW，只有在纵坐标刻度高倍放大（纵坐标刻度<1 mW）时才明显。采用铂金坩埚（~8 ppm/K）时，该效应不发生。b3) 测量单元遭受外力冲击：坩埚在传感器上跳起并可能水平移动。
c) 炉体盖没盖好。
冷空气进入炉体，造成温度波动，产生噪声信号。
d) 电气影响。
d1) 仪器金属部件中的静电释放或电源干扰（脉冲）。d2) 无线电广播发射机、手ji和其它高频干扰源。
e) 室温的突然变化。
例如直射阳光照入。
f) 由于样品蒸气压的增大造成坩埚盖爆裂。
吸热峰的高度取决于逸出气体或蒸汽的量（峰高可能为0.1至100mW）。
g) 样品液滴凝结或起泡引起坩埚盖上孔的间歇性堵塞。
h) 由前面实验的样品残留物造成的传感器污染。
效应重复出现在同一温度，并且是相关物质*的。解决的办法是在空气或氧气中加热除去。这类假象在很大程度上与所涉及的样品有关。